新闻资讯

日本J-RAS离子迁移试验装置的原理及方法介绍

     日本J-RAS离子迁移试验装置可对离子迁移绝缘电阻值进行高精度、高信赖性、高效率的评价。

     从当今的地球、市场环境来看,省能源、铅/无卤素、小型轻量、低价、高依赖等观点出来的,新素材、新实装方法的研究开发、评价方法的重估是必须的。

     离子迁移实验装置是一种依赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压(BIAS  VOLTAGE),经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生(ION  MIGRATION),并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,或者是OPEN/SHORT试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。

日本J-RAS离子迁移试验装置离子质谱方法
     一种产生离子质谱信息的方法,包括下列步骤:产生气态离子团;沿**轴及时分离气态离子团,形成多个离子组,各离子组具有与其相关的单一离子迁移率;沿垂直于**轴的第二轴顺序地及时分离至少一些离子组,形成多个离子小组,各离子小组具有与其相关的单一离子质量;和处理至少一些离子小组,由此确定质量的特定信息。

尊敬的客户:
  本公司还有步入室湿热热循环湿冻试验箱、EVA自动裁切机、组框机产品,您可以通过网页拨打本公司的服务专线了解更多产品的详细信息,至善至美的服务是我们的追求,欢迎新老客户放心选购自己心仪产品,我们将竭诚为您服务!

苏公网安备 32050602010439号